活動訊息
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帶您深入了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構、核心功能，及最新 AIL 11 版本亮點，並著重在電子製造業：半導體，面板，PCB，被動元件，協助企業提升檢測精度與系統開發效率。
日期：2026/04/09 (四)
時間：14:00 – 17:00
地點：集思竹科會議中心
(新竹科學園區工業東二路1號)
本研討會囊括半導體製程各階段所需的影像檢測與量測技術，從晶圓層級到封裝段，完整串聯半導體製程檢測解決方案，協助與會者更清楚評估技術選項與導入考量。
日期：2026/03/27 (五)
時間：10:00 – 16:30
地點：新竹國賓大飯店 11 樓竹萱廳
(新竹市東區中華路二段 188 號)
日期：2025/06/25 (三)
時間：13:30 – 16:20
地點：亞洲無人機 AI 創新應用研發中心 5105 演講廳
深入探索相機模組在無人機領域的整合與應用，並透過實際案例解析各種應用場景下的整合方式與效益。
本次研討會誠摯邀請韓國 Neurocle 原廠 AI 專家 黃採鉉 (황채현) 蒞臨分享，深入解析 Neurocle 自主深度學習視覺檢測軟體架構於實務檢測場景的應用策略，以及分享成功案例。
日期：2025/05/19 (一)
時間：13:30 – 16:30
地點：IEAT會議中心 1003會議室
(台北市中山區松江路350號)
Aurora Imaging Library, AIL (MIL) 係一款能依照需求自由選擇模組的視覺檢測函式庫，大幅降低成本及提升檢測效能！本研討會帶您深入了解各模組功能協助您挑選適用模組！
日期：2024/11/28、12/05、12/12
時間：13:30 – 16:40
地點：台南、台中、新竹