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Allied Vision 最新 100GigE 工業相機系列，搭載 Sony Pregius S 全域快門感測器、RDMA 傳輸架構與超高速資料吞吐能力，專為半導體、先進封裝之視覺分析應用打造，重新定義新世代工業視覺效能標準。

solino® 透過多角度光學與影像運算技術，讓「看不到的異常」變得可視化與可量化。

IM·solino 立體輪廓異常感測器透過 solino® 計算圖學與 BRDF 表面反射分析，將微小表面異常轉換為可分析影像，實現高精度製程檢測與品質控制。

本文重點預告介紹德國 Allied Vision 最新面掃及線掃相機以及 SWIR 在半導體產業中的應用。歡迎報名參加研討會，以取得最新、最完整的產業資訊！

Computar Telecentric 鏡頭消除透視失真，遠近物體等比例成像，適用高倍率、低失真量測應用。

KOWA HC-VIS-SW 鏡頭涵蓋可見光到 SWIR，具焦點偏移校正，適用多種檢測場景，提升材料識別效率。