最新消息
Opto IM·solino 突破傳統機器視覺的表面缺陷檢測技術
IM·solino 立體輪廓異常感測器透過 solino® 計算圖學與 BRDF 表面反射分析，將微小表面異常轉換為可分析影像，實現高精度製程檢測與品質控制。
Allied Vision AVT 最新線掃、面掃及 SWIR 相機產品及研討會資訊
本文重點預告介紹德國 Allied Vision 最新面掃及線掃相機以及 SWIR 在半導體產業中的應用。歡迎報名參加研討會，以取得最新、最完整的產業資訊！
詳細內容
Alecs 邊緣運算智慧型相機：單機部署 AOI 及 AI 檢測方案
整合 Alvium 相機與 NVIDIA Jetson Orin 邊緣運算平台，支援第三方軟體整合與彈性開發，無需 PC 即可部署 AOI/AI 檢測，加速導入並提升產線效能。