HC-VIS-SW 產品系列圖

HC-VIS-SW

最大 12MP 可見光 - SWIR 鏡頭

高解析度最高達 12MP,適用於 450~2000 nm 波段的機器視覺鏡頭,具焦點轉移校正與浮動鏡組設計,確保遠近皆有一致解析度。採用超低色散 XD 玻璃降低色差,並具低扭曲特性,特別適合精密視覺檢測。

  • 高解析度最高可達 12Mega-pixel
  • 適用於波長 450-2000nm 的機器視覺鏡頭
  • 具焦點轉移 (Focus Shift) 校正,成像更精確
  • 使用超低色散(XD)玻璃製作,大幅減低色差,更適合用於視覺檢測
  • 低扭曲(distortion)
  • 浮動 (Floating) 鏡組設計,無論遠距還是近距對焦皆能維持一致解析度

  • 規格列表
  • 產品介紹

型號規格表

HC-VIS-SW系列 ─ 12MP 高解析,大波段 450~2000nm 鏡頭

日本 KOWA 的 HC-VIS-SW 鏡頭系列專為可見光和 SWIR 光譜而設計,從 450 nm 到 2000 nm 具備焦點偏移校正!影像精確不失真! 適用像素尺寸 3.1 μm 以上感測器。搭配特定的帶通濾光片,可加強材料之間的顏色對比,應用在塑料分揀、食物檢測等多種材料識別或異物檢測,有助於縮短生產時間及光學調校的過程!

產品特色

  • 專為搭載 Sony IMX990 / IMX991 之相機而設計
  • 解析度最高達 1200 萬畫素
  • 適用像素尺寸 3.1 μm 以上感測器
  • 校正 450-2000 nm 波長內的焦點偏移 (Focus Shift)
  • 使用特殊的超低色散 (XD) 玻璃 , 大幅減低色差
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波長改變不移焦:普通 SWIR 鏡頭 vs. KOWA 紅外線鏡頭

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應用案例

透過光譜特徵識別多種材料

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在可見光圖像中,左邊 4 種粉料看起來都是白色的;最右邊瓶內僅能看出盛裝透明液體
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在短波紅外 (SWIR) 影像中,左邊四種粉料顏色各不相同;最右邊瓶內兩種液體的分層及顏色對比明顯

蘋果外觀與內部檢測

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咖啡豆異物檢測

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