HC-VIS-SW系列 ─ 12MP 高解析,大波段 450~2000nm 鏡頭
日本 KOWA 的 HC-VIS-SW 鏡頭系列專為可見光和 SWIR 光譜而設計,從 450 nm 到 2000 nm 具備焦點偏移校正!影像精確不失真! 適用像素尺寸 3.1 μm 以上感測器。搭配特定的帶通濾光片,可加強材料之間的顏色對比,應用在塑料分揀、食物檢測等多種材料識別或異物檢測,有助於縮短生產時間及光學調校的過程!
產品特色
- 專為搭載 Sony IMX990 / IMX991 之相機而設計
- 解析度最高達 1200 萬畫素
- 適用像素尺寸 3.1 μm 以上感測器
- 校正 450-2000 nm 波長內的焦點偏移 (Focus Shift)
- 使用特殊的超低色散 (XD) 玻璃 , 大幅減低色差

波長改變不移焦:普通 SWIR 鏡頭 vs. KOWA 紅外線鏡頭

應用案例
透過光譜特徵識別多種材料


蘋果外觀與內部檢測

咖啡豆異物檢測


