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本文重點預告介紹德國 Allied Vision 最新面掃及線掃相機以及 SWIR 在半導體產業中的應用。歡迎報名參加研討會，以取得最新、最完整的產業資訊！

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帶您深入了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構、核心功能，及最新 AIL 11 版本亮點，並著重在電子製造業：半導體，面板，PCB，被動元件，協助企業提升檢測精度與系統開發效率。

日期：2026/04/09 (四)
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(新竹科學園區工業東二路1號)

半導體全製程檢測與量測研討會：從晶圓到封裝

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本研討會囊括半導體製程各階段所需的影像檢測與量測技術，從晶圓層級到封裝段，完整串聯半導體製程檢測解決方案，協助與會者更清楚評估技術選項與導入考量。

日期：2026/03/27 (五)
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2026 台北國際汽機車零配件展

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日期：2026/04/14 (二) – 04/17 (五)
地點：台北南港展覽館 1 館 1F

碁仕科技攤位 #K0421 誠摯邀請您蒞臨！

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