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活動訊息

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  • 展覽
  • 軟體課程
機器視覺軟體 AIL(原 MIL)研討會 ─ 半導體與電子業檢測實務應用

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帶您深入了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構、核心功能,及最新 AIL 11 版本亮點,並著重在電子製造業:半導體,面板,PCB,被動元件,協助企業提升檢測精度與系統開發效率。

日期:2026/04/09 (四)
時間:14:00 – 17:00
地點:集思竹科會議中心
(新竹科學園區工業東二路1號)

半導體全製程檢測與量測研討會:從晶圓到封裝

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本研討會囊括半導體製程各階段所需的影像檢測與量測技術,從晶圓層級到封裝段,完整串聯半導體製程檢測解決方案,協助與會者更清楚評估技術選項與導入考量。

日期:2026/03/27 (五)
時間:10:00 – 16:30
地點:新竹國賓大飯店 11 樓竹萱廳
(新竹市東區中華路二段 188 號)

2026 台北國際包裝工業展

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日期:2026/06/24 (三) – 06/27 (六)
時間:上午10時 – 下午6時 (06/27至下午5時)
地點:台北南港展覽館 1 館 4F

碁仕科技攤位 #M1009 誠摯邀請您蒞臨!

2026 台北國際汽機車零配件展

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日期:2026/04/14 (二) – 04/17 (五)
時間:上午9時30分 – 下午5時30分 (04/17至下午3時)
地點:台北南港展覽館 1 館 1F

碁仕科技攤位 #K0421 誠摯邀請您蒞臨!

Neuro-T AI 瑕疵檢測模型訓練課程:2026 年度場次

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Neuro-T & Neuro-R 是全球第一套採用 Auto Deep Learning 技術的深度學習影像檢測軟體,透過專業AI深度學習講師的說明及引導,學習六大AI訓練模型:圖像分類、瑕疵檢查、影像辨識、異常檢測、OCR判別、旋轉補正

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Neuro-T & Neuro-R 是全球第一套採用 Auto Deep Learning 技術的深度學習影像檢測軟體,透過專業AI深度學習講師的說明及引導,學習六大AI訓練模型:圖像分類、瑕疵檢查、影像辨識、異常檢測、OCR判別、旋轉補正

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