本次研討會帶您了解 Aurora Imaging Library (AIL, 原 MIL) 的系統架構與核心功能，介紹與教學著重在電子製造業：半導體，面板，PCB，被動元件。透過實際範例，說明常用視覺模組如何在定位、量測、瑕疵檢測與識別等場景中發揮效能，同時介紹最新 AIL11 版本亮點，協助企業提升檢測精度與系統開發效率。
活動亮點
- 深入解析 AIL 的 Deep Learning OCR 功能及其在複雜字元辨識中的應用場景
- 實務了解 AIL AGM 演算法如何應用於高精度定位與影像比對，優化運算效能並降低系統負載
- 瞭解 AIL 結合 FPGA 加速的運作方式，有效提升影像處理效能與檢測速度
適合對象
- 已有使用 AIL 但想知道 AIL11 新功能的軟體工程師
- 已有 AOI 軟體經驗但沒使用過 AIL，想了解 AIL 的軟體工程師
- 想導入 AOI 但尚無經驗的軟體工程師
活動資訊
- 活動日期 | 4月9日 (四) 14:00 – 17:00 (13:30 開始報到)
- 活動地點 | 集思竹科會議中心 2F 達爾文廳 / 新竹科學園區工業東二路1號
- 報名時間 | 即日起 ~ 4月2日 (四) 17:00
- 相關諮詢 | 鄭小姐 / emilycheng@g4.com.tw / 02-25031803 #124
活動議程
| 時間 | 議程內容 | 講者 |
|---|---|---|
| 13:30 - 14:00 | 報到 | |
| 14:00 - 14:30 | 快速掌握 AIL：架構設計與核心工具介紹 |
趙霈文 Vincent 碁仕科技 技術部副理 |
| 14:30 - 15:30 | 電子業常用模組使用技巧與實作 |
趙霈文 Vincent 碁仕科技 技術部副理 |
| 15:30 - 15:45 | 茶敘 | |
| 15:45 - 16:45 | Aurora Imaging Library 11 技術亮點與電子產業案例 |
趙霈文 Vincent 碁仕科技 技術部副理 |
| 16:45 - 17:00 | Q&A |
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報名方式
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注意事項
- 主辦單位保有修改、變更、終止活動內容細節之權利。
- 本活動報名截止日 04/02 (四)。主辦單位將視報名狀況提前或延後線上報名時間。
- 本活動採預先線上報名並完成登錄手續，不開放現場報名，請勿偽造他人身份資料進行報名以免觸法，主辦單位保留報名資格之最後審核權利。
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活動地點
集思竹科會議中心
新竹科學園區工業東二路1號