Allied Vision AVT 最新線掃、面掃及 SWIR 相機產品及研討會資訊

以下重點預告介紹德國 Allied Vision 最新面掃及線掃相機以及 SWIR 短波紅外光在半導體產業中的應用。
碁仕科技也將在研討會現場將完整分享最新、最完整的技術資訊與產業案例,歡迎透過下方連結報名參加!

32K 高解析線掃相機

Allied Vision 線掃相機 Logo
  • 32768 px CMOS 多線型感光元件
  • 4 x CXP-12 並支援 PoCXP
  • 掃描頻率達 73 kHz (Mono)

32k 與 16k 解析度改善對比

100GigE 超高速面掃相機

FXO 100GigE 產品系列圖
  • 取像速度高達 660 fps
  • 高解析畫素達 100MP 以上
  • RDMA 技術節省 CPU 運算達到高效能
  • 可選 C-Mount / M52 / M58 / Flat Front

RDMA 技術兼顧高解析與高傳輸速度

高解析 SWIR 紅外線相機

  • 搭載 Sony SenSWIR 感光元件,最高可達 5MP 畫素
  • 400nm – 1700nm 之廣 QE 光譜波段
  • 具備 TEC 溫控版本
  • 內建先進影像校正功能 DPC / FPNC / DOPO

SWIR 高精度 Die & Wafer 隱裂檢測

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