活動訊息

日期：2026/06/24 (三) – 06/27 (六)
時間：上午10時 – 下午6時 (06/27至下午5時)
地點：台北南港展覽館 1 館 4F

碁仕科技攤位 #M1009 誠摯邀請您蒞臨！

帶您深入了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構、核心功能，及最新 AIL 11 版本亮點，並著重在電子製造業：半導體，面板，PCB，被動元件，協助企業提升檢測精度與系統開發效率。

日期：2026/04/09 (四)
時間：14:00 – 17:00
地點：集思竹科會議中心
(新竹科學園區工業東二路1號)

本研討會囊括半導體製程各階段所需的影像檢測與量測技術，從晶圓層級到封裝段，完整串聯半導體製程檢測解決方案，協助與會者更清楚評估技術選項與導入考量。

日期：2026/03/27 (五)
時間：10:00 – 16:30
地點：新竹國賓大飯店 11 樓竹萱廳
(新竹市東區中華路二段 188 號)

日期：2026/04/14 (二) – 04/17 (五)
時間：上午9時30分 – 下午5時30分 (04/17至下午3時)
地點：台北南港展覽館 1 館 1F

碁仕科技攤位 #K0421 誠摯邀請您蒞臨！

日期：2025/09/25 (四)
地點：新竹市國立陽明交通大學-電子資訊大樓

碁仕科技攤位 #A10 誠摯邀請您蒞臨

日期：2025/09/18 (四)- 2025/09/20 (六)
地點：台北南港展覽館一館 1F

碁仕科技攤位 #K0019 誠摯邀請您蒞臨！

日期：2025/08/20 (三)- 2025/08/23 (六)
地點：台北南港展覽館一、二館 1F

碁仕科技攤位 #I1116 / #P1232 誠摯邀請您蒞臨！