SWIR

工業相機怎麼選?機器視覺應用的規格重點與選型思路

在機器視覺與工業自動化場景中,工業相機通常會與鏡頭、光源、傳輸介面、控制器及演算法共同構成完整系統。 若一開始只比較像素數或價格,後續容易遇到視野不足、速度不夠、觸發不同步或影像對比不足等問題。正確的選型方式,是先定義檢測目標與成像條件,再反推相機類型、解析度、快門、介面及光學配置。本文依實際工程順序整理選型重點。

Allied Vision AVT 最新線掃、面掃及 SWIR 相機產品及研討會資訊

本文重點預告介紹德國 Allied Vision 最新面掃及線掃相機以及 SWIR 在半導體產業中的應用。歡迎報名參加研討會,以取得最新、最完整的產業資訊!

12 MP 高解析,大波段 450~2000 nm 鏡頭

KOWA HC-VIS-SW 鏡頭涵蓋可見光到 SWIR,具焦點偏移校正,適用多種檢測場景,提升材料識別效率。

超越可見光:SWIR 相機如何革新食品安全與品質檢測

您的食品檢測還停留在表面嗎?探索 Allied Vision Alvium SWIR 短波紅外相機如何穿透物體表面,檢測水果內部撞傷、含水量與異物,大幅提升食品安全與分級效率。

SWIR 相機如何解決半導體製程檢測難題?

SWIR 相機能穿透矽晶圓與封裝材料,協助發現可見光無法檢出的內部缺陷,是半導體封裝檢測與晶圓對位的關鍵技術,有助於製程精度與良率提升。

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