半導體

Z 軸移動影響 IC 與被動元件檢測效率,液態對焦遠心鏡頭能解決嗎?

Varioptic® C-T 系列是一款液態對焦的遠心鏡頭,不必靠 Z 軸反覆升降即可在同一位置取得不同高度元件的清晰影像,適用於 IC、電阻、電容等元件的 OCR、錯位與缺料檢測等應用。

挑戰 70 微米極限:機器視覺如何實現 IC 打線高精度檢測

IC 金線的斷裂、偏移或高度異常如何檢測?了解如何利用三台 AVT Guppy 工業相機,無需顯微鏡,即可對小於 70 微米的 IC 打線進行精準的計數、高度量測與瑕疵檢測,確保晶片品質。

SWIR 相機如何解決半導體製程檢測難題?

SWIR 相機能穿透矽晶圓與封裝材料,協助發現可見光無法檢出的內部缺陷,是半導體封裝檢測與晶圓對位的關鍵技術,有助於製程精度與良率提升。

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