碁仕科技

AI 文字辨識與條碼讀取的完美結合
AI 文字辨識與條碼讀取的完美結合
FS 固定式工業條碼掃描器
previous arrow
next arrow

推薦產品

RTCC4 產品系列圖

RTCC4

Gardasoft
光源控制器
EXO GigE 產品系列圖

EXO GigE

Allied Vision
面陣相機
Prosilica GT 產品系列圖

Prosilica GT

Allied Vision
面陣相機 / IR 相機
3DPIXA 產品系列圖

3DPIXA

Allied Vision
立體視覺
HR CoaXPress 產品系列圖

HR CoaXPress

Allied Vision
面陣相機
FS 固定式工業條碼掃描器 產品系列圖

VS 機器視覺智慧型相機

Zebra
智慧型相機
FS 固定式工業條碼掃描器 產品系列圖

VS 機器視覺智慧型相機

Zebra
智慧型相機
allPIXA neo 產品系列圖

allPIXA neo

Allied Vision
線掃相機
Prosilica GC 產品系列圖

Prosilica GC

Allied Vision
面陣相機
RT 產品系列圖

RT

Gardasoft
光源控制器

最新消息

更多最新消息

活動訊息

  • 研討會
  • 展覽
  • 軟體課程
機器視覺軟體 AIL ─ 電子業 AOI 檢測實務應用

機器視覺軟體 AIL ─ 電子業 AOI 檢測實務應用

帶您深入了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構、核心功能，及最新 AIL 11 版本亮點，並著重在電子製造業：半導體，面板，PCB，被動元件，協助企業提升檢測精度與系統開發效率。

日期：2026/04/09 (四)
時間：14:00 – 17:00
地點：集思竹科會議中心
(新竹科學園區工業東二路1號)

半導體全製程檢測與量測研討會：從晶圓到封裝

半導體全製程檢測與量測研討會：從晶圓到封裝

本研討會囊括半導體製程各階段所需的影像檢測與量測技術，從晶圓層級到封裝段，完整串聯半導體製程檢測解決方案，協助與會者更清楚評估技術選項與導入考量。

日期：2026/03/27 (五)
時間：10:00 – 16:30
地點：新竹國賓大飯店 11 樓竹萱廳
(新竹市東區中華路二段 188 號)

Neuro-T AI 瑕疵檢測模型訓練課程：2026 年度場次

Neuro-T AI 瑕疵檢測模型訓練課程：2026 年度場次

Neuro-T & Neuro-R 是全球第一套採用 Auto Deep Learning 技術的深度學習影像檢測軟體，透過專業AI深度學習講師的說明及引導，學習六大AI訓練模型：圖像分類、瑕疵檢查、影像辨識、異常檢測、OCR判別、旋轉補正

  • 研討會
  • 展覽
  • 軟體課程
機器視覺軟體 AIL ─ 電子業 AOI 檢測實務應用

機器視覺軟體 AIL ─ 電子業 AOI 檢測實務應用

帶您深入了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構、核心功能，及最新 AIL 11 版本亮點，並著重在電子製造業：半導體，面板，PCB，被動元件，協助企業提升檢測精度與系統開發效率。

日期：2026/04/09 (四)
時間：14:00 – 17:00
地點：集思竹科會議中心
(新竹科學園區工業東二路1號)

半導體全製程檢測與量測研討會：從晶圓到封裝

半導體全製程檢測與量測研討會：從晶圓到封裝

本研討會囊括半導體製程各階段所需的影像檢測與量測技術，從晶圓層級到封裝段，完整串聯半導體製程檢測解決方案，協助與會者更清楚評估技術選項與導入考量。

日期：2026/03/27 (五)
時間：10:00 – 16:30
地點：新竹國賓大飯店 11 樓竹萱廳
(新竹市東區中華路二段 188 號)

Neuro-T AI 瑕疵檢測模型訓練課程：2026 年度場次

Neuro-T AI 瑕疵檢測模型訓練課程：2026 年度場次

Neuro-T & Neuro-R 是全球第一套採用 Auto Deep Learning 技術的深度學習影像檢測軟體，透過專業AI深度學習講師的說明及引導，學習六大AI訓練模型：圖像分類、瑕疵檢查、影像辨識、異常檢測、OCR判別、旋轉補正

更多活動訊息

返回頂端