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帶您深入了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構、核心功能，及最新 AIL 11 版本亮點，並著重在電子製造業：半導體，面板，PCB，被動元件，協助企業提升檢測精度與系統開發效率。

日期：2026/04/09 (四)
時間：14:00 – 17:00
地點：集思竹科會議中心
(新竹科學園區工業東二路1號)

半導體全製程檢測與量測研討會：從晶圓到封裝

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本研討會囊括半導體製程各階段所需的影像檢測與量測技術，從晶圓層級到封裝段，完整串聯半導體製程檢測解決方案，協助與會者更清楚評估技術選項與導入考量。

日期：2026/03/27 (五)
時間：10:00 – 16:30
地點：新竹國賓大飯店 11 樓竹萱廳
(新竹市東區中華路二段 188 號)

Neuro-T AI 瑕疵檢測模型訓練課程：2026 年度場次

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Neuro-T & Neuro-R 是全球第一套採用 Auto Deep Learning 技術的深度學習影像檢測軟體，透過專業AI深度學習講師的說明及引導，學習六大AI訓練模型：圖像分類、瑕疵檢查、影像辨識、異常檢測、OCR判別、旋轉補正

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