工業相機

挑戰 70 微米極限:機器視覺如何實現 IC 打線高精度檢測

IC 金線的斷裂、偏移或高度異常如何檢測?了解如何利用三台 AVT Guppy 工業相機,無需顯微鏡,即可對小於 70 微米的 IC 打線進行精準的計數、高度量測與瑕疵檢測,確保晶片品質。

SWIR 相機如何解決半導體製程檢測難題?

SWIR 相機能穿透矽晶圓與封裝材料,協助發現可見光無法檢出的內部缺陷,是半導體封裝檢測與晶圓對位的關鍵技術,有助於製程精度與良率提升。

滿足 PCB 的高難度 AOI 檢測需求的工業相機

超過 35 年技術經驗的德國 AVT (原SVS) 開發高效穩定相機,將高速運作、超高解析度與卓越影像品質完美結合,協助提升自動視覺檢測系統,同時維持高精度影像表現。

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