尺寸量測
挑戰 70 微米極限：機器視覺如何實現 IC 打線高精度檢測
IC 金線的斷裂、偏移或高度異常如何檢測？了解如何利用三台 AVT Guppy 工業相機，無需顯微鏡，即可對小於 70 微米的 IC 打線進行精準的計數、高度量測與瑕疵檢測，確保晶片品質。
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