擴散面光源
極均勻完美背光檢測
專業級暗場環形光源，專為低角度凸顯表面微刮痕與幾何特徵設計。光線以趨近水平的角度照射，使平整表面反射錯開鏡頭，僅讓瑕疵邊緣折射入鏡，是晶圓與玻璃外觀檢測利器。
- 低角度照射設計：以趨近水平角度打光，強烈凸顯微小幾何特徵
- 暗場檢測技術：使平整表面的鏡面反射光徹底錯開相機鏡頭
- 精準瑕疵顯影：僅讓表面瑕疵與微刮痕邊緣折射入鏡，對比極高
- 專注高光潔面：針對晶圓與玻璃等高反光材質外觀檢測的絕佳利器
- 規格列表
型號規格表
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