heliInspect H8 產品系列圖

heliInspect H8

高倍率、長行程 3D 量測系統

搭載最新 heliSens™ S4H 3D 感測器,提供亞微米級高解析拓樸量測與高速掃描性能,支援多倍率、長行程 Z 軸掃描及標準化整合介面。

  • 支援高精度拓樸量測,解析度達亞微米等級
  • 高動態範圍設計,確保穩定且可靠的量測結果
  • 提供 2x 至 100x 多倍率選擇
  • 內建 Z 軸掃描器,行程 40 mm,具 1 nm / 20 nm 兩種解析度

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heliInspect™ H8 ─ 高倍率、長行程 3D 量測系統

提升量測能力

  • 具備可靠的亞微米級解析度拓樸量測能力
  • 搭載最新 3D 感測器 heliSens™ S4H
  • 量測速度與解析度表現卓越
  • 高動態範圍設計確保量測結果穩定可靠
  • 倍率範圍:2x 至 100x

可輕鬆整合至生產線

  • 採用標準 GenICam 介面
  • 相機內已內建標準操作流程
  • 內建 Z 軸掃描器,行程 40 mm,具兩種解析度:1 nm / 20 nm
  • 提供多種線材與固定方式配置

軟體

相容於支援 GenICam 的標準應用程式。提供 heliSDK™ 軟體開發套件,內含範例程式,支援 Halcon、C++、LabVIEW、Python

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