單 Sensor 線掃描相機

SWIR - CL / GigE / USB

採用 InGaAs 感測技術，提供高靈敏度、廣波段 SWIR 成像與高速掃描，適合材料分選、瑕疵檢測與高速生產線應用。

• 支援 900 – 1700 nm 光譜範圍
• 大像素、高靈敏度表現
• 掃描速率最高可達 40 kHz
• 提供多種輸出介面選擇
• 體積輕巧、安裝彈性高