CFI60-2 物鏡

Nikon CFI60-2 系列物鏡是經典 CFI60 的進化版,採用獨家相位 Fresnel 透鏡技術,在維持超長工作距離的同時,能完美校正色差並提升數值孔徑 (NA),為半導體與材料檢測提供銳利、清晰且高對比的顯微影像。

CFI T Plan EPI 產品系列圖

CFI T Plan EPI

明場物鏡

CFI TU Plan BD ELWD 產品系列圖

CFI T Plan EPI SLWD

明場超長 WD

#REF!

CFI TU Plan Apo BD

明暗場複消色差

#REF!

CFI TU Plan Apo EPI

明場複消色差

鏡頭 類別圖片

CFI TU Plan BD ELWD

明暗場長 WD

鏡頭 類別圖片

CFI TU Plan Fluor BD

明暗場螢光

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