CF IC EPI Plan TI
Nikon CF IC EPI Plan TI 干涉物鏡，2.5x 與 5x 低倍率，適合大面積干涉條紋觀察，用於 CFIC 光學系統，適合寬視野表面平坦度與膜厚量測應用。
使用者同意聲明
為了提供最佳瀏覽體驗，我們會使用 Cookie 等技術來儲存或存取裝置資訊。若您同意使用這些技術，我們將得以處理本網站上的瀏覽行為或唯一識別碼等資料。若您不同意或撤回同意，部分功能與服務可能會受到影響。
功能性選項 Always active
此技術性儲存或存取僅為達成訂閱者或使用者明確要求之特定服務的使用，或單純為完成電子通訊網路中通訊傳輸之合法目的所必要。
Preferences
The technical storage or access is necessary for the legitimate purpose of storing preferences that are not requested by the subscriber or user.
統計 Cookie
僅用於統計目的之技術性儲存或存取。
The technical storage or access that is used exclusively for anonymous statistical purposes. Without a subpoena, voluntary compliance on the part of your Internet Service Provider, or additional records from a third party, information stored or retrieved for this purpose alone cannot usually be used to identify you.
行銷追蹤 Cookie
此技術性儲存或存取係為建立使用者個人資料，以傳送廣告，或於單一網站或跨多個網站追蹤使用者，以達成類似行銷目的所必要。
返回頂端