CFI60-2 物鏡

Nikon CFI60-2 系列物鏡是經典 CFI60 的進化版，採用獨家相位 Fresnel 透鏡技術，在維持超長工作距離的同時，能完美校正色差並提升數值孔徑 (NA)，為半導體與材料檢測提供銳利、清晰且高對比的顯微影像。