半導體視覺檢測｜智慧相機｜Edge Computing 高速影像處理
Zebra Iris GTX 適用於半導體 AOI、晶圓檢測、封裝檢查、PCB 視覺檢測與精密製造應用，提供高速影像處理與穩定工業級視覺運算能力。
透過 Edge Computing 架構，可於設備端直接完成影像擷取與視覺分析，無需 IPC，即可建構高效率自動化檢測系統。
核心特色
Edge Computing 邊緣運算架構
於設備端即時進行影像處理與判斷，降低延遲並提升產線反應速度。
一體式智慧相機設計
整合相機、處理器、I/O 與通訊功能，免 IPC 架構即可快速部署。
高速高解析影像處理
支援多種解析度感測器，滿足半導體與精密製造檢測需求。
Flowchart 視覺開發
透過圖形化流程設計視覺應用，降低開發門檻，加速導入時程。
工業級穩定設計
IP67 防護與工業級連接介面，適用於嚴苛製造環境。
系統優勢
降低建置成本與維護負擔
免 IPC 與額外運算平台，簡化系統架構並降低硬體與維護成本。
加速導入與開發效率
圖形化流程設計縮短開發時間，加快視覺檢測系統上線速度。
高穩定與彈性應用擴充
一體式架構提升長時間運作穩定性，並支援檢測、定位、讀碼與量測等多元應用。
半導體與先進封裝應用
- 晶圓外觀檢測（Wafer Inspection）
- Wafer Edge Crack 檢測
- Die / Wire Bond 檢查
- BGA / IC 封裝檢測
- IC 載板 AOI
- 金屬表面瑕疵檢測
- TGV / Glass 基板檢測
- 雷射加工與焊接檢測
視覺開發軟體整合
Aurora Design Assistant 提供完整機器視覺開發環境，透過 Flowchart 架構快速建立檢測流程。
支援功能包含：
- 影像處理與分析工具
- OCR / Barcode 讀取
- 幾何定位與量測
- 瑕疵檢測工具
- 工業通訊與 PLC 整合
- Web-based HMI 操作介面