Z 軸移動影響 IC 與被動元件檢測效率，液態對焦遠心鏡頭能解決嗎？

🔎 進行 PCB 表面量測時，您是否常為了看清楚不同高度的元件而感到困擾？

從貼平 PCB 表面的微小電阻，到突起的電容，再到高聳的 IC Chip 或連接器，高度落差可能達到數毫米。傳統作法必須依賴 Z 軸馬達反覆升降來對焦，這帶來了三大問題：

• 視野中心偏移：Z軸移動變換焦距時，視野中心會隨著 Z 軸偏移。
• 震動干擾：Z 軸頻繁啟停造成的微震動，影響高倍率量測的精度。
• 速度慢：機械移動與穩定需要時間，拖累整體 Cycle Time。