微小缺陷辨識與低光成像的解決方案：QSI 700 系列
🚀 高精度檢測困難之處：
當前工業檢測在高精度量測與影像擷取上仍面臨多項技術限制，主要技術困難包括：
- 微小缺陷因解析度不足而不易辨識
- 低光或長曝光條件下雜訊過高
- 高對比場景導致亮暗細節遺失
- 長時間量測易因溫度漂移造成結果不一致
- 多光譜或特殊波段訊號微弱且不易穩定擷取
高感光、低噪訊的 16bit 科學級成像系統
Atik Cameras 憑藉二十多年經驗打造 QSI700 系列，採用背照式 (BSI) CMOS 感測器設計，具備高量子效率、低雜訊與寬動態範圍，能在低光、長時間曝光與高對比條件下保持高訊噪比與量測穩定性，有效對應工業檢測需求。
核心技術優勢
極低雜訊架構
讀出雜訊低至 1.2 e⁻，暗電流僅 0.005 e⁻/p/s，在長時間曝光或低光環境仍保持極高訊噪比。
雙階段深度冷卻 (Dual-Stage TEC)
可達 −25°C ΔT，大幅抑制暗電流並降低長曝光時的噪點。
高容量電位井，提升動態範圍
大容量 Full Well 能有效降低過曝機率，保留更多高亮部細節，適合高反差工業檢測場景。
真 16-bit ADC，高灰階解析度
可輸出 65,536 階灰階，在低對比、微弱訊號或高精度量測場景能解析更細微的階調變化。
適合極長時間曝光
支援長達 24 小時曝光，保持影像穩定且無噪訊堆積。
大尺寸感測器，視野更廣、減少拼接
單張可涵蓋更大視野，適用於晶圓檢測、表面分析等需要大視野高解析度的應用。
應用範疇
半導體檢測
晶圓、電路板微小瑕疵與結構檢查
精密量測與自動化檢測
尺寸、形狀、定位的高精度量測
高光譜成像
食品分級、化學分類、製程監測
有機薄膜螢光檢查
以微弱螢光評估薄膜均勻性與殘留