🚀 高精度檢測困難之處：
當前工業檢測在高精度量測與影像擷取上仍面臨多項技術限制，主要技術困難包括：
- 微小缺陷因解析度不足而不易辨識
- 低光或長曝光條件下雜訊過高
- 高對比場景導致亮暗細節遺失
- 長時間量測易因溫度漂移造成結果不一致
- 多光譜或特殊波段訊號微弱且不易穩定擷取
QSI700系列 – 高解析低噪點相機
Atik Cameras 憑藉二十多年經驗打造 QSI700 系列，採用科學級冷卻 CMOS 技術，具備高量子效率、低讀出雜訊與寬動態範圍，能在低光、長時間曝光與高對比條件下保持高訊噪比與量測穩定性，有效對應工業檢測需求。
核心技術優勢
高靈敏背照式 CMOS 感測器 (BSI)
具備高量子效率 (QE)，在弱光與窄波段成像中提供卓越靈敏度。
16-bit 高動態範圍成像架構
提供寬廣動態範圍，適合科學量測與大範圍取像的細節呈現。
大尺寸感測器易捕捉完整視野
IMX455 擁有更大成像面積 36 x 24mm，一次涵蓋更多範圍，減少拼接需求。
雙階段深度冷卻 (Dual-Stage TEC)
可達 −25°C ΔT，大幅抑制暗電流並降低長曝光時的噪點。
超低讀出雜訊前端 (1.2 e−)
在長曝光與影像堆疊時維持高 SNR，呈現更純淨的影像。
內建濾鏡輪與冷卻系統
降低背焦偏移與 tilt 風險，減少外接模組和線材複雜度，提升整合穩定性。
應用範疇
半導體檢測
晶圓、電路板微小瑕疵與結構檢查
精密量測與自動化檢測
尺寸、形狀、定位的高精度量測
高光譜成像
食品分級、化學分類、製程監測