CF IC EPI Plan DI 產品系列圖

CF IC EPI Plan DI

雙光束干涉物鏡

Nikon CF IC EPI Plan DI 雙光束干涉物鏡,10x-100x,WD 最長 7.4mm,高 NA 搭配長工作距離,適合需要干涉量測之精密表面形貌分析與 CFIC 系統應用。

  • 規格列表

型號規格表

型錄下載

相關文章

尚無相關文章

聯絡資訊

統編:80555797
地址:台北市松江路 363 號 3 樓
電話:02-25031803
傳真:02-25031802
信箱:sales@g4.com.tw
諮詢表單

    聯絡資訊

    統編:80555797
    地址:台北市松江路 363 號 3 樓
    電話:02-25031803
    傳真:02-25031802
    信箱:sales@g4.com.tw
    諮詢表單

      返回頂端