單 Sensor 線掃描相機
SWIR – CL / GigE / USB
採用 InGaAs 感測技術，提供高靈敏度、廣波段 SWIR 成像與高速掃描，適合材料分選、瑕疵檢測與高速生產線應用。
- 支援 900 – 1700 nm 光譜範圍
- 大像素、高靈敏度表現
- 掃描速率最高可達 40 kHz
- 提供多種輸出介面選擇
- 體積輕巧、安裝彈性高
- 規格列表
- 產品介紹
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